[发明专利]一种通过等离子体技术增强氧化铪(HfO2在审

专利信息
申请号: 202011325193.X 申请日: 2020-11-24
公开(公告)号: CN112447508A 公开(公告)日: 2021-03-05
发明(设计)人: 燕少安;龚俊;罗鹏宏;唐明华;郑学军 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 411105 湖南省湘*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种通过等离子体技术增强氧化铪(HfO2)基铁电薄膜铁电性能的方法,具体方法步骤包括:预先对衬底进行等离子体清洗;配制HfO2基铁电薄膜的前驱体溶液;在所述衬底上沉积HfO2基铁电薄膜;对所述HfO2基铁电薄膜进行退火处理;对所述HfO2基铁电薄膜进行等离子体处理;在所述HfO2基铁电薄膜上沉积顶电极。本发明通过等离子技术改善衬底与HfO2基铁电薄膜界面的质量、降低HfO2基铁电薄膜中的氧空位浓度,从而显著提高HfO2基铁电薄膜材料的极化强度。本发明公开的工艺方法具有低成本、高重复性、效果显著等优点。
搜索关键词: 一种 通过 等离子体 技术 增强 氧化 hfo base sub
【主权项】:
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