[发明专利]功率半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 202011328449.2 申请日: 2020-11-24
公开(公告)号: CN112582463B 公开(公告)日: 2023-03-17
发明(设计)人: 张邵华;郭广兴;杨彦涛 申请(专利权)人: 杭州士兰微电子股份有限公司;杭州士兰集成电路有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/423;H01L29/78;H01L29/739;H01L21/336;H01L21/331
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 岳丹丹
地址: 310012*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 公开了一种功率半导体器件及其制造方法,功率半导体器件的部分屏蔽导体与源极电极连接,屏蔽导体在与源极电极电连接的位置处,屏蔽导体从沟槽底部延伸至沟槽内两侧的栅极导体之间的位置,栅极导体和屏蔽导体之间由隔离层隔开,屏蔽导体与源极电极连接;部分屏蔽导体不与源极电极连接,屏蔽导体在不与源极电极电连接的位置处,屏蔽导体从沟槽底部延伸至沟槽上部两侧的栅极导体下方区域,减小了屏蔽导体的寄生电阻,使得寄生电阻下降几十倍。
搜索关键词: 功率 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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