[发明专利]用于磁共振成像的磁场均匀性测量的数据记录和处理方法在审

专利信息
申请号: 202011332755.3 申请日: 2020-11-24
公开(公告)号: CN112526418A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 何钧;张喜虎;陶世良 申请(专利权)人: 上海辰光医疗科技股份有限公司
主分类号: G01R33/24 分类号: G01R33/24;A61B5/055
代理公司: 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 代理人: 卢艳民
地址: 201707 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用于磁共振成像的磁场均匀性测量的数据记录和处理方法,在数据记录过程中,通过数据背景颜色、数据折线图和数据雷达图的异常变化提醒操作人员数据异常,提醒操作人员检查更正,这样在测量过程中就可以及时发现错误的测量数据以及异常数据,从而及时进行更正,节省时间,避免因为数据错误引发的后续错误。
搜索关键词: 用于 磁共振 成像 磁场 均匀 测量 数据 记录 处理 方法
【主权项】:
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