[发明专利]一种适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试样品杆及其测试方法在审
| 申请号： | 202011338760.5 | 申请日： | 2020-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN112577931A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 马庆;匡翠方;罗向东;余洋 | 申请（专利权）人： | 江苏度微光学科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/65;G01N21/01 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 郑海峰 |
| 地址： | 215131 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种适用于低温强磁场环境下的显微光谱成像测试样品杆及其测试方法，属于显微光谱成像领域。包括连接杆、转接腔、相机、照明光源和光学模块；所述的连接杆为中空结构，连接杆一端连接三维位移台，连接杆另一端通过转接腔与光学模块连接；所述连接杆的内部还安装有显微物镜，显微物镜的物方朝向样品台一侧。本发明将自由空间光路引入到样品杆中，解决了传统光纤的热胀冷缩引起的失焦问题，进一步利用显微成像系统，解决了光纤样本杆中的盲扫问题，可以在光谱检测的同时进行实时的显微成像，对样品的光谱测量位置进行精确定位，得到光谱和样品表面位置的对应关系。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 低温 磁场 环境 显微 光谱 成像 测试 样品 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于江苏度微光学科技有限公司，未经江苏度微光学科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011338760.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种瓦楞纸板制作成型加工方法
- 下一篇：一种基于生物医药科技的试管
