[发明专利]测试用例分层存储方法、系统、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202011341058.4 申请日: 2020-11-25
公开(公告)号: CN112346986B 公开(公告)日: 2022-10-21
发明(设计)人: 程德心;周风明;黄维良;史玉凤 申请(专利权)人: 武汉光庭信息技术股份有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36;G06F16/13
代理公司: 武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙) 42242 代理人: 高兰
地址: 430000 湖北省武汉市东湖开发区光谷软*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明实施例提供一种测试用例分层存储方法、系统、电子设备及存储介质,方法包括:将被测程序的功能模块的测试用例按照不同的功能存储于对应的不同文件中;根据不同场景对每一个文件分为N个一级目录,对于每一个一级目录,根据不同的前置条件分为S个二级目录;对于二级目录下的测试用例,对于不同阶段的测试用例,对每个文件中存储的测试用例按照不同的形式命名;在不同阶段执行测试用例时,根据不同阶段的需求,检索文件中对应的测试用例并执行。本发明实施例将被测程序的各个功能模块的测试用例进行分层存储,在不同的测试阶段,可按照不同的需求检索对应的测试用例,对于分层存储结构,检索效率高,进而提高了测试的效率。
搜索关键词: 测试 分层 存储 方法 系统 电子设备 介质
【主权项】:
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