[发明专利]一种基于单比特采样的多目标弱信号检测方法及装置在审
| 申请号： | 202011341301.2 | 申请日： | 2020-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN112511165A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 沈仲弢;胡佳栋;王选;刘树彬;封常青;安琪 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | H03M1/12 | 分类号： | H03M1/12;H03M1/36 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人： | 郑立明;韩珂 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于单比特采样的多目标弱信号检测方法及装置，其利用比较器和FPGA内的组合逻辑链、移位寄存器，等效地实现多个单比特ADC，进而实现多个不同周期的目标弱信号的检测。在实现上，本发明充分利用了FPGA内部逻辑资源可灵活配置的特性，可以根据目标弱信号的数量和重复频率而灵活地做出更改。此外，与使用专用的单比特ADC芯片相比，在本发明中，比较器和FPGA之间进行板级布线时则无需考虑时序问题，有利于简化电路设计。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 比特 采样 多目标 信号 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学技术大学，未经中国科学技术大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011341301.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种维护硬盘数据的方法及显示设备
- 下一篇：一种辐射状配电网区间潮流分析方法
