[发明专利]一种变色薄膜复合材料相分离尺度的分析方法在审
| 申请号： | 202011342012.4 | 申请日： | 2020-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN112414960A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 聂永杰;赵现平;刘荣海;朱远维;赵腾飞;李寒煜;邱方程;肖华根 | 申请（专利权）人： | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/33 | 分类号： | G01N21/33;G01N1/28;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人： | 逯长明;许伟群 |
| 地址： | 650217 云南省昆*** | 国省代码： | 云南;53 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种变色薄膜复合材料相分离尺度的分析方法，包括以下步骤：在石英玻璃基底上制备有机变色复合薄膜；利用紫外分光光度计测试有机变色复合薄膜的紫外可见吸收光谱；利用等离子体逐层刻蚀有机变色复合薄膜，刻蚀至有机变色复合薄膜使变色薄膜的厚度变薄，每次刻蚀均测试有机变色复合薄膜的紫外可见吸收光谱；利用不同刻蚀时间的有机变色复合薄膜紫外可见吸收光谱，使用朗伯比尔定律和最小二乘法，依次计算得到各个深度处相分离尺寸的大小。从而为其有机变色复合薄膜的相关性能优化和相变基础研究等提供支持。而深度紫外的吸收光谱的开发将会大大的方便研究其性能和性质之间的关系。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 变色 薄膜 复合材料 分离 尺度 分析 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于云南电网有限责任公司电力科学研究院，未经云南电网有限责任公司电力科学研究院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202011342012.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种晶圆环切方法
- 下一篇：宽带低损耗声表面波滤波器芯片结构
