[发明专利]发光元件检测方法及设备在审
| 申请号： | 202011345603.7 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN112993739A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 吴秉颖;刘永钦;黄炫乔 | 申请（专利权）人： | 旺矽科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H01S5/00 | 分类号： | H01S5/00;H01S5/183 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 陈晓庆 |
| 地址： | 中国台湾新*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种发光元件检测方法，以及一种适用于所述方法的发光元件检测设备，所述方法是先产生一第一控制信号而开启一朝向一发光元件的出光口撷取影像的影像撷取装置的快门，再产生一脉冲信号而点亮发光元件，再产生一第二控制信号而关闭影像撷取装置的快门并得到一检测影像，再通过检测影像判断发光元件的出光口的发光情况；由此，本发明能准确地检测出发光元件的出光口是否有不发光或闪烁等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 元件 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
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