[发明专利]DDR调试方法及系统、可读存储介质、电子设备有效
| 申请号： | 202011349030.5 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN112328441B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 王文超;唐月林 | 申请（专利权）人： | 展讯通信（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张凤伟;吴敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种DDR调试方法及系统、可读存储介质、电子设备。运行于片上系统的DDR控制器中，所述DDR控制器通过片上系统的DDR物理层接口与DDR直接连接；所述方法包括以下至少一种：在向所述DDR发送读操作调试指令以后，多次接收所述DDR输出的数据信号及数据选通信号，得到读操作对应的DDR眼图，并基于所述读操作对应的DDR眼图，得到最佳读操作参考电压值及最佳读操作相位值；在向所述DDR发送写操作调试指令以后，多次向所述DDR发送数据信号及数据选通信号，得到写操作对应的DDR眼图，并基于所述写操作对应的DDR眼图，得到最佳写操作参考电压值及最佳写操作相位值。应用上述方案，可以提高DDR的调试效率。 | ||
| 搜索关键词： | ddr 调试 方法 系统 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
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