[发明专利]超声C扫描检测分辨力的计算方法、测量装置和测量方法有效

专利信息
申请号: 202011349862.7 申请日: 2020-11-26
公开(公告)号: CN112578024B 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 徐春广;马朋志;肖定国;潘勤学;杨博 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N29/06 分类号: G01N29/06;G01N29/30
代理公司: 北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙) 11017 代理人: 韩登营
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种超声C扫描检测分辨力的计算方法、测量装置和测量方法,该计算方法适用于反射法超声C扫描检测分辨力的分析和验证。利用超声显微系统、两个直角直缝试块和固定件,得到直缝试块的超声C扫描图像,然后采用最小二乘拟合和归一化算法得到边缘响应函数曲线,即可得到特定超声换能器C扫描检测的真实分辨力。达到了综合客观因素准确计算超声C扫描成像检测分辨力的技术效果。
搜索关键词: 超声 扫描 检测 分辨力 计算方法 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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