[发明专利]基于剪切散斑干涉技术的复杂表面无损检测系统及方法在审
| 申请号： | 202011351451.1 | 申请日： | 2020-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN112414941A | 公开（公告）日： | 2021-02-26 |
| 发明（设计）人： | 高新亚;陈凡秀;钟宜辰;王宇琛;张彬;王玉辉;沈美丽;刘尊年 | 申请（专利权）人： | 青岛理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/95 |
| 代理公司： | 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 | 代理人： | 陈晓敏 |
| 地址： | 266033 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于剪切散斑干涉技术的复杂表面无损检测系统及方法，包括光照模块、剪切散斑测量模块、控制及信号处理模块；光照模块发出出射光以照射在被测物体表面待检测区域；剪切散斑测量模块采集被测物体漫反射的光进而形成剪切散斑干涉图，并将剪切散斑干涉图提供给控制及信号处理模块，控制及信号处理模块进行处理并提取缺陷信息。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 剪切 干涉 技术 复杂 表面 无损 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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