[发明专利]一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 202011353002.0 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN114563680A | 公开（公告）日： | 2022-05-31 |
| 发明（设计）人： | 刘静;郭耀华;陈凝;欧阳睿;邹欢;李秀丽 | 申请（专利权）人： | 紫光同芯微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/40 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100083 北京市海淀区五*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种集成电路芯片电源干扰测试系统及其测试方法，所述测试系统包括干扰波形发生器、计算机、智能卡测试仪、测试夹具和待测芯片，其中，干扰波形发生器具有输出端，待测芯片具有电源端，计算机连接智能卡测试仪，智能卡测试仪连接测试夹具，干扰波形发生器连接测试夹具，待测芯片连接测试夹具，干扰波形发生器的输出端直接连接待测芯片的电源端。待测芯片进行测试时，由于在待测芯片的电源端连续加入电压±3V的脉冲波干扰信号，经过N遍的顺次擦操作、写操作、读操作后，撤除脉冲波干扰信号，直接通过智能卡测试仪确认待测芯片工作状态，且该测试系统及其测试方法，操作方法简单易于实现，能够显著提高待测芯片的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 芯片 电源 干扰 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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