[发明专利]基于低地球轨道卫星全球电离层总电子含量多层解析方法有效
| 申请号： | 202011362282.1 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112528213B | 公开（公告）日： | 2022-10-18 |
| 发明（设计）人： | 刘杨;梅俊垒 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F17/11 | 分类号： | G06F17/11;G01S19/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 张乾桢;邓治平 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于低地球轨道卫星全球电离层总电子含量多层解析方法，该方法利用分布在不同高度群的全球低地球轨道卫星，通过星载接收机的卫星导航双频观测量计算电离层总电子含量，结合地面卫星导航观测网络的输出产品实现全球电离层总电子含量空间分布的多层解析，然后利用掩星接收机获得的中低层电离层电子密度的垂直分布廓线对多层解析结果进行修正。相比传统的全球电离层总电子含量分布计算方法，本方法能够有效提取不同高度电离层电子密度的分布特征，改进二维电离层总电子含量分布的时空精度，为全面认知电离层总电子含量的全球三维空间分布提供良好的技术支撑。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 地球 轨道 卫星 全球 电离层 电子 含量 多层 解析 方法 | ||
【主权项】：
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