[发明专利]一种大光束光功率轮廓分析仪在审
申请号: | 202011374315.4 | 申请日: | 2020-11-30 |
公开(公告)号: | CN112595259A | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 宋红芳;李可;朱凯 | 申请(专利权)人: | 湖州师范学院 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B11/27;G01B21/04;G01J1/00;G01M11/02 |
代理公司: | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙) 34119 | 代理人: | 黄乐瑜 |
地址: | 313000 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提出了一种大光束光功率轮廓分析仪,包括基台、单模保偏光纤光源、扩束准直透镜组、光电探测器阵列和可调光阑;单模保偏光纤光源、扩束准直透镜组、光电探测器阵列、可调光阑沿基台长度方向依次设置,单模保偏光纤光源安装在扩束准直透镜组上,扩束准直透镜组、光电探测器阵列、可调光阑依次安装在基台上并且扩束准直透镜组、光电探测器阵列、可调光阑的高度可调节。本发明能够对大光束的光功率纵向以及横向分布轮廓给与特定精度的测量:固定光电探测器阵列在导轨上的位置不动改变探测器阵列的高度可以实现光束横向功率分布的探测;沿光轴方向移动光电探测器阵列,相同的探测器单元可以实现光束纵向功率分布的探测。 | ||
搜索关键词: | 一种 光束 功率 轮廓 分析 | ||
【主权项】:
暂无信息
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