[发明专利]碳化硅晶片的表面加工方法有效

专利信息
申请号: 202011380354.5 申请日: 2020-11-30
公开(公告)号: CN113471058B 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 邱锦桢;施郁霈;李依晴 申请(专利权)人: 环球晶圆股份有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 杜兆东
地址: 中国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开一种碳化硅晶片的表面加工方法,其包括:提供碳化硅晶片;其中,碳化硅晶片的表面定义有碳面及硅面,并且碳面的晶向不同于硅面的晶向;实施有机薄膜形成步骤,其包含:以有机溶剂浸湿于碳化硅晶片的表面,以于碳化硅晶片的表面上形成有机薄膜;其中,有机溶剂的碳数不小于2、且挥发速率不大于250;以及实施牺牲氧化层形成步骤,其包含:将覆盖有机薄膜的碳化硅晶片置放于高温氧化炉内,以使得碳化硅晶片的表面形成为牺牲氧化层;其中,在牺牲氧化层形成步骤中,有机薄膜能辅助地使得硅面的氧化速率大于碳面的氧化速率。借此,此加工方法能减少材料的浪费、减少新的表面损伤产生的机会、及缩短牺牲氧化层的成长时间。
搜索关键词: 碳化硅 晶片 表面 加工 方法
【主权项】:
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