[发明专利]一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机有效
| 申请号： | 202011385204.3 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112588592B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 周光杰;余振涛 | 申请（专利权）人： | 群沃电子科技（苏州）有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/00 | 分类号： | B07C5/00;B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司： | 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司 11385 | 代理人： | 王月松 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种全自动芯片老化测试及PCB屏蔽测试下料机。所述下料机包括：控制器、器件抓取机构、数据采集器、器件测试盘下料机和器件自动出料机；数据采集器和器件抓取机构均与控制器连接，器件测试盘下料机用于将放置有待分拣器件的器件测试盘传送至器件取料区；器件自动出料机用于将空料盘传送至器件放置区，器件放置区包括良品区和不良品区；数据采集器用于采集器件测试盘内的待分拣器件的测试数据，测试数据包括待分拣器件的测试结果和对应的放置位置，放置位置为良品区或不良品区；控制器用于根据测试数据控制器件抓取机构将器件取料区内的待分拣器件抓取到对应的放置位置。本发明提高了分拣的精准度和高效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 全自动 芯片 老化 测试 pcb 屏蔽 下料机 | ||
【主权项】：
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