[发明专利]用于电子密度扰动定域测量的双波段多波束微波诊断系统有效
| 申请号： | 202011386065.6 | 申请日： | 2020-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN112566348B | 公开（公告）日： | 2022-02-15 |
| 发明（设计）人： | 王正汹;施培万;朱霄龙 | 申请（专利权）人： | 大连理工大学 |
| 主分类号： | H05H1/00 | 分类号： | H05H1/00 |
| 代理公司： | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人： | 梅洪玉;温福雪 |
| 地址： | 116024 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明属于磁约束受控核聚变领域等离子体诊断，涉及一种用于电子密度扰动定域测量的双波段多波束微波诊断系统，是测量磁约束等离子体中湍流和高能粒子模的重要技术方法。本发明通过梳妆谱源和倍频技术将两个波段两部分子系统集成到一起从而实现跨波段输出；通过极化器将两波段微波分开并分别单独处理从而简化系统结构；优点在于，该集成系统能够同时发射两个波段频率范围内多个高功率平坦度的微波波束，可在径向方向上实现对等离子体电子密度扰动的多点定域测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电子密度 扰动 测量 波段 波束 微波 诊断 系统 | ||
【主权项】：
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