[发明专利]加样装置及辅助加样式测试结构

摘要

本发明辅助加样式测试结构，包括测试卡，以及与测试卡配合使用的加样装置，加样装置包括加样块，加样块上开设有加样缺口，加样缺口包括加样斜坡，加样缺口于加样块内侧的底部开设有稀释液槽，稀释液槽底部设置有密封膜，加样块下端开设有测试卡推入槽，测试卡推入后，测试卡上的检测样本滴入槽和稀释液槽重合；加样斜坡的Y轴向开设有连通稀释液槽的拭子导入槽，拭子导入槽呈斜向下设置，拭子通过拭子导入槽向下活动，拭子棉签部到达测试卡的样品垫；测试时拭子先于稀释液槽进行充分的搅拌稀释，后通过拭子导入槽导向向下刺穿密封稀释槽底部的密封膜，拭子棉签部接触测试卡的样品垫，稀释液也随之落入样品垫卡进行测试。