[发明专利]一种基于FP干涉仪的LIF测量荧光信号窄带滤光系统及方法在审
| 申请号： | 202011390779.4 | 申请日： | 2020-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN112666137A | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 靳琛垚;叶孜崇;张炜;江堤;徐国盛 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G02B26/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 邓治平 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于FP干涉仪的LIF测量荧光信号窄带滤光系统及方法，包括激光源，发射的激光信号入射到激光调制器，经过激光调制器调制后，发射到目标粒子，通过光学透镜组收集荧光信号，所述光学透镜组连接到FP干涉仪，FP干涉仪连接有传感器，然后将传感器信号输出到第一锁相放大器，所述第一锁相放大器的参考信号来自激光调制器输出的调制参考信号；利用第二相放大器进行信号采集，对FP干涉仪进行共振频率的扫描调制，以FP干涉仪的调制信号作为参考信号，对由第一锁相放大器输出的经锁相放大后的LIF荧光信号进行二次锁相放大，利用FP干涉仪本身的精细度实现0.1‑0.5nm频宽的窄带滤光。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fp 干涉仪 lif 测量 荧光 信号 窄带 滤光 系统 方法 | ||
【主权项】：
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