[发明专利]数据单元的基于回归的校准及扫描在审

专利信息
申请号: 202011402501.4 申请日: 2020-12-02
公开(公告)号: CN112905382A 公开(公告)日: 2021-06-04
发明(设计)人: V·P·拉亚普鲁;H·R·辛吉迪;A·马尔谢;S·K·瑞特南;林其松;K·K·姆奇尔拉 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10;G11C29/42
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请涉及数据单元的基于回归的校准及扫描。可执行读取操作以读取存储在数据块处的数据。可基于所述多个读取操作确定在与所述数据块相关联的一对编程分布之间的间隔的参数。可接收读取存储在所述数据块处的所述数据的读取请求。响应于接收到所述读取请求,可基于反映在与所述数据块相关联的所述一对编程分布之间的分离的参数执行读取操作,以读取存储在所述数据块处的所述数据。
搜索关键词: 数据 单元 基于 回归 校准 扫描
【主权项】:
暂无信息
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