[发明专利]一种点阵光谱测量装置、面阵色度测量装置及方法在审
| 申请号： | 202011406455.5 | 申请日： | 2020-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN112197863A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 冯晓帆;罗时文;郑增强;洪志坤 | 申请（专利权）人： | 武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01J3/46 |
| 代理公司： | 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 | 代理人： | 张凯 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种点阵光谱测量装置、面阵色度测量装置及方法，涉及光谱测量技术领域，该点阵光谱测量装置包括：物镜，其用于对目标进行成像；点扫描组件，用于以二维点阵形式采集物镜对目标的成像，得到二维点阵光，并将二维点阵光转换成一维点阵光后出射；准直色散组件，其用于对一维点阵光进行准直处理、色散处理以及聚焦处理；成像组件，其用于对经过准直处理、色散处理以及聚焦处理的一维点阵光成像，获得二维点阵光中各束光的光谱信息。本申请将二维点阵光转化为一维点阵光，并结合准直色散处理，获得二维点阵光中各束光的光谱信息，从而能够应用于空间多点光谱测试，提高光谱测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 点阵 光谱 测量 装置 色度 方法 | ||
【主权项】：
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