[发明专利]一种基于SERF惯性测量装置的测量自旋交换弛豫率的方法在审

专利信息
申请号: 202011406536.5 申请日: 2020-12-04
公开(公告)号: CN112683996A 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 房建成;魏凯;徐子童;翟跃阳;韩邦成;刘颖 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N27/74 分类号: G01N27/74
代理公司: 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 代理人: 吴小灿;朱亚娜
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种基于SERF惯性测量装置的测量自旋交换弛豫率的方法,通过频率响应公式拟合得到不同偏置磁场条件下对应的频响曲线的半高半宽,利用半高半宽与总弛豫率之间的关系式计算出不完全SERF状态的第一总弛豫率,以及完全SERF状态的第二总弛豫率,两个总弛豫率相减即得自旋交换弛豫率,有利于准确测量SERF惯性测量装置中未被完全消除的自旋交换弛豫率,为高精度的原子自旋惯性测量装置的研制提供了基础。
搜索关键词: 一种 基于 serf 惯性 测量 装置 自旋 交换 弛豫率 方法
【主权项】:
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