[发明专利]一种固态硬盘老化测试装置及方法在审
| 申请号： | 202011416897.8 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112562779A | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 石云中 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 济南舜源专利事务所有限公司 37205 | 代理人： | 孙玉营 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种固态硬盘老化测试装置及方法，所述装置包括：老化机柜和老化机框，所述老化机框内安装有机框控制主板、风扇模组、硬盘模组、硬盘背板，所述硬盘背板上安装有温度传感器，所述温度传感器与所述机框控制主板电连接，所述机框控制主板与所述风扇模组电连接；所述老化机框安装在所述老化机柜内部，且所述老化机框与老化机柜之间留有热循环风道；所述热循环风道连通老化机框的进风口和出风口。本发明能够达到对SSD固态硬盘板载NAND Flash颗粒老化效果，降低生产成本，保证SSD固态硬盘出厂运行可靠性及所存储数据的安全性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 固态 硬盘 老化 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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