[发明专利]一种具有表面和体内双沟道的横向超结薄层SOI-LDMOS器件有效

专利信息
申请号: 202011417175.4 申请日: 2020-12-04
公开(公告)号: CN112420846B 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 陈伟中;秦海峰;王礼祥;许峰;黄义 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 杨柳岸
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及一种具有表面和体内双沟道的横向超结薄层SOI‑LDMOS器件,属于半导体功率器件技术领域。该器件在传统表面栅薄层SOI‑LDMOS器件上,在埋氧层处额外引入体内栅极并在漂移区引入P型埋层,优点:(1)在正向导通时,该器件的表面与体内同时形成两个导电沟道,使电子的注入能力有很大的提升,从而降低器件的比导通电阻。引入的P型埋层提高了漂移区N型层的浓度进而优化器件的正向导通性能,最终降低器件的比导通电阻。(2)在击穿时,P型埋层优化漂移区的电场强度分布,P型埋层与N型层相互耗尽从而使漂移区发生电荷补偿效应。(3)在埋氧层引入体内栅极,提高了器件的跨导gm,从而使栅极电压对电流的控制能力增强。
搜索关键词: 一种 具有 表面 体内 沟道 横向 薄层 soi ldmos 器件
【主权项】:
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