[发明专利]一种改善硫化钨连续膜均匀性的方法有效

专利信息
申请号: 202011426047.6 申请日: 2020-12-09
公开(公告)号: CN112458430B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 兰飞飞;张嵩;董增印;王再恩;王健;李佳起;杨丹丹;张颖;李强 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C16/02;C23C16/54
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 王凤英
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种改善硫化钨连续膜均匀性的方法。该方法的步骤是:首先采用CVD法在特定衬底表面进行连续硫化钨薄膜的生长。生长结束后将获得的连续膜放入石英舟中,然后将装有连续膜的石英舟放入石英系统中,向系统中通入100‑150sccm的Ar,保持系统压力在5‑10mbar,将系统温度升高至950℃‑1000℃,当系统温度达到设定温度后,向系统内通入5sccm‑10sccm的H2,在氢气气氛下对连续膜进行表面热处理。H2对硫化物的单晶终端能够起到一定的刻蚀作用,能够有效去除连续膜表面存在的小尺寸二次成核单晶,提高连续膜均匀性。
搜索关键词: 一种 改善 硫化 连续 均匀 方法
【主权项】:
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