[发明专利]一种具有多点测量结构的基坑下沉度检测用测绘装置在审

专利信息
申请号: 202011426696.6 申请日: 2020-12-09
公开(公告)号: CN112577466A 公开(公告)日: 2021-03-30
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 谭巧林
主分类号: G01C5/00 分类号: G01C5/00;G01C15/00;E02D33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230000 安徽省合肥市蜀山*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及工程测绘装置技术领域,具体为一种具有多点测量结构的基坑下沉度检测用测绘装置,包括传输组件、沉降仪组件和电感传感器,所述传输组件的上方固定连接有升降组件,所述升降组件包括壳体,所述壳体的内部固定连接有减震支架,所述减震支架的上方固定连接有马达,所述马达的右侧固定连接有主动轴,所所述升降组件的下方固定连接有沉降仪组件,所述沉降仪组件的外部设置有保护组件。本发明通过将该测绘装置设置呈多连接头连接装置,能够在使用时实现对不同位置进行下沉度检测,实现其多线检测,进而能够将所检测数值进行对比分析,测出基坑的整体下沉度,且通过多点对比设置能够提高其检测精度和检测效率。
搜索关键词: 一种 具有 多点 测量 结构 基坑 下沉 检测 测绘 装置
【主权项】:
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