[发明专利]一种非接触式精密测量仪有效
| 申请号： | 202011429541.8 | 申请日： | 2020-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN112504069B | 公开（公告）日： | 2023-06-09 |
| 发明（设计）人： | 金长明;毛文龙;王浩;曹桂平 | 申请（专利权）人： | 合肥埃科光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/02 | 分类号： | G01B5/02;G01B11/02 |
| 代理公司： | 合肥律众知识产权代理有限公司 34147 | 代理人： | 赵娟 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市高*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非接触式精密测量仪，包括用于放置待测件和量具的测量平台，量具包括置于测量平台上的立柱和在立柱上串接的粗测量具和精测量具，待测件尺寸为粗测量具和精测量具读数之差；粗测量具包括一升降块和置于升降块上部的千分表，升降块的底面置于测量平台上时，千分表顶针与升降块的顶面接触并显示读数为零；精测量具包括与升降块固定的非接触式量具，非接触式量具的测量零点位置与升降块的底面位置相适应；本发明的非接触式精密测量仪，操作简单，能够实现大量程、高精度、非接触式测量，在确保测量精度的前提下，不影响产品表面质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 精密 测量仪 | ||
【主权项】：
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