[发明专利]光学测量装置在审
| 申请号： | 202011430298.1 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN113218624A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | 赵大衍;金裕振;文知浩;朴锺宇;崔荣太 | 申请（专利权）人： | 三星显示有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01J1/42 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 李盛泉;全振永 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 提供一种光学测量装置。光学测量装置包括：光传感器，测量基准对象或者测量对象的光波形；学习器，从所述光传感器接收所述基准对象的第一光波形，从而学习所述第一光波形的频率特性；滤波器生成器，分析所述第一光波形的频率特性而生成频率滤波器；频率建模部，从所述光传感器接收所述测量对象的第二光波形，从而对所述第二光波形的频率特性进行建模；以及光特性检测部，基于所述频率建模部的输出值和所述频率滤波器来计算所述第二光波形的光特性指数。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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