[发明专利]用于X射线成像中的金属伪影避免的方法在审
| 申请号： | 202011431170.7 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112927315A | 公开（公告）日： | 2021-06-08 |
| 发明（设计）人： | J·H·西韦德森;吴蓬威;N·M·谢斯;B·W·克雷埃尔 | 申请（专利权）人： | 约翰斯·霍普金斯大学;西门子医疗有限公司 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00;G06T17/00;G06T7/11;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 薛琦 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种用于3D x射线成像中的金属伪影避免的系统和方法。该方法包括：确定金属在要扫描的感兴趣物体或体积中的3D位置；估计将减小金属伪影的严重性的源‑探测器轨道；将成像系统移动到与所估计的源‑探测器轨道一致的位置；以及根据该源‑探测器轨道扫描该物体。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 射线 成像 中的 金属 避免 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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