[发明专利]一种提高ADC分辨率的采样系统及采样方法在审
| 申请号： | 202011435518.X | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112532249A | 公开（公告）日： | 2021-03-19 |
| 发明（设计）人： | 于锋;张召德 | 申请（专利权）人： | 青岛迈金智能科技有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/54 | 分类号： | H03M1/54 |
| 代理公司： | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人： | 张明利 |
| 地址： | 266000 山东省青岛市李沧区*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种提高ADC分辨率的采样系统及采样方法，涉及ADC采样的技术领域，其技术方案要点是采样系统包括基准电路；数据选择器，其与基准电路连接；程控放大器，其一输入端与数据选择器连接，其另一输入端用于输入采集信号；参考电路，其用于提供参考电压信号；模数转换器，其与程控放大器和基准电路连接；以及MCU，其输入端与模数转换器的输出端连接；采样方法包括S01、采集信号传递至程控放大器；S02、电压信号输入至程控放大器；S03、程控放大器将差值放大之后传递至模数转换器；S04、模数转换器转换为数字信号之后输出至MCU；S05、MCU读取模数转换器输入的数字信号并计算得出采集信号的电压值；通过程控放大器的放大作用，提高模数转换器的分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 提高 adc 分辨率 采样系统 采样 方法 | ||
【主权项】：
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