[发明专利]一种提高闪存介质寿命的方法、装置和电子设备在审
申请号: | 202011437543.1 | 申请日: | 2020-12-07 |
公开(公告)号: | CN112527199A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | 万红波;陈祥;唐晓栋 | 申请(专利权)人: | 深圳大普微电子科技有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06 |
代理公司: | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人: | 江晓苏 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例涉及存储设备技术领域,公开了一种提高闪存介质寿命的方法、装置和电子设备。该方法包括:确定待操作的目标块;获取闪存介质的实时温度;在所述实时温度符合第一预设温度范围时,将所述目标块进行冻结处理;在所述实时温度符合第二预设温度范围时,启用所述冻结处理后的所述目标块。本发明通过对块进行冻结处理,避免了直接将块标为坏块,在温度符合时,恢复冻结的块,从而能够使块再被利用,总体上提升了闪存介质的使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 闪存 介质 寿命 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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