[发明专利]一种测试设备、方法、装置及介质在审
| 申请号： | 202011438339.1 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN114589728A | 公开（公告）日： | 2022-06-07 |
| 发明（设计）人： | 王文;王松柏;高志华 | 申请（专利权）人： | 合肥欣奕华智能机器股份有限公司 |
| 主分类号： | B25J19/00 | 分类号： | B25J19/00 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 石磊 |
| 地址： | 230013 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试设备、方法、装置及介质。由于根据被测芯片上需要测试的功能单元，确定了每个功能单元所对应的测试点和反馈点，后续通过测试设备的处理器生成待测试功能单元所需的第一电信号，将该第一电信号通过耦合单元传输至被测芯片的测试点，以对被测芯片上包含测试点以及反馈点之间的逻辑电路的待测试功能单元进行测试，从被测芯片的反馈点输出的第二电信号经过耦合单元传输至信号转换单元，由信号转换单元对该第二电信号的电参数进行转换后，将转换后的第二电信号传输至处理器，处理器根据转换后的第二电信号所对应的数字信号及预先配置的真值表，确定待测试功能单元是否测试通过，实现对被测芯片的功能是否正常的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 设备 方法 装置 介质 | ||
【主权项】：
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