[发明专利]集成芯片及形成晶体管装置的方法在审
申请号: | 202011439824.0 | 申请日: | 2020-12-11 |
公开(公告)号: | CN112993037A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 刘铭棋 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/40;H01L21/336 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人: | 王素琴 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 在一些实施例中,本公开涉及一种包括栅极介电层、栅极电极、场板介电层及场板的集成芯片。栅极介电层配置在衬底之上及源极区与漏极区之间。栅极电极配置在栅极介电层之上。场板介电层配置在衬底之上及栅极介电层与漏极区之间。场板配置在场板介电层之上且与栅极介电层间隔开。 | ||
搜索关键词: | 集成 芯片 形成 晶体管 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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