[发明专利]一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法在审
| 申请号： | 202011445779.X | 申请日： | 2020-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN112629464A | 公开（公告）日： | 2021-04-09 |
| 发明（设计）人： | 唐慧霖;孙成贤 | 申请（专利权）人： | 北京星航机电装备有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/08 | 分类号： | G01B21/08 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 | 代理人： | 赵欣 |
| 地址： | 100074 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种小尺寸双面V型槽壁厚精密检测方法根据两个V型槽尺寸分别加工出对应的锥尖销；将一个锥尖销通过销孔固定在底座上，另一锥尖销通过销孔与百分表连接；将待测零件放置两锥尖处，即可通过百分表的读数测出零件V型槽处的实际壁厚尺寸；移动底座，即可检测整个长度方向双面V型槽的壁厚尺寸。本发明能够实现狭窄V型槽的壁厚检测，检测精度高；只需V型槽角度及锥尖圆角与锥尖销相同即可进行检测，而与槽宽、槽深等V型槽其他尺寸无关，通用性强；只需根据不同角度及锥尖圆角制作不同的V型锥尖销，即可实现不同尺寸的双面V型槽壁厚检测，成本低，效率高。取消下锥尖销，即可适用于单面V型槽结构的壁厚检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 尺寸 双面 型槽壁厚 精密 检测 方法 | ||
【主权项】：
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