[发明专利]基于开关控制的采样电路在审
| 申请号： | 202011448553.5 | 申请日： | 2020-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN112600543A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 程龙 | 申请（专利权）人： | 屹世半导体（上海）有限公司 |
| 主分类号： | H03K17/687 | 分类号： | H03K17/687 |
| 代理公司： | 苏州三英知识产权代理有限公司 32412 | 代理人： | 仲崇明 |
| 地址： | 200000 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明揭示了一种基于开关控制的采样电路，所述采样电路包括：运算放大器AMP，包括输入端和输出端；采样电容，与运算放大器AMP的输入端相连；反馈电容，电性连接于运算放大器AMP的输入端和输出端之间；第一开关，电性连接于信号输入端Vin和采样电容之间；第二开关，电性连接于运算放大器AMP的输入端之间；第三开关及第四开关，分别电性连接于Vcm驱动电路和第二开关之间；其中，所述第二开关、第三开关及第四开关为NMOS管，且满足Vth2＞Vth3、Vth2＞Vth4，Vth2、Vth3、Vth4分别为第二开关、第三开关和第四开关的阈值电压。本发明通过控制NMOS管开关的阈值，可以将第二开关产生的误差量通过第三开关和第四开关提前释放到Vcm驱动电路中，可有效提高采样电路的采样精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 开关 控制 采样 电路 | ||
【主权项】：
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