[发明专利]一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法有效
| 申请号： | 202011451798.3 | 申请日： | 2020-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN112557885B | 公开（公告）日： | 2023-08-08 |
| 发明（设计）人： | 朱志强;李学武;陈雷;刘怀锋;杨泽宇;刘映光 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 张晓飞 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法，该测试系统包括上位机和测试板；上位机负责流程控制和数据处理；测试板包括控制处理FPGA、配置FLASH、DDR存储器以及被测FPGA；测试板负责完成被测FPGA的配置，同时完成被测FPGA结温和工作电流的监测，最终得到被测FPGA指定结温条件下闩锁阈值。本发明通过将被测FPGA配置成移位寄存器链功能进行自加热，充分利用被测FPGA内部集成的温度监测器持续监测被测FPGA结温，达到指定结温条件后，控制处理FPGA实时监测被测FPGA工作电流，最终获得被测FPGA指定结温条件下的闩锁阈值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 内置 温度 监测器 fpga 粒子 效应 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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