[发明专利]一种直接获得材料界面氧势和结构的方法有效
| 申请号： | 202011453409.0 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112763527B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 王丽君;何晓波;薛未华;周国治 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/2273 | 分类号： | G01N23/2273;G16C60/00 |
| 代理公司： | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人： | 皋吉甫 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种直接获得材料界面氧势和结构的方法，属于材料界面研究技术领域。该方法包括：对新鲜固体样品的表面进行刻蚀，形成待检测样品界面；利用Al Kα或者Mg KαX射线对待检测样品界面进行XPS检测，得到X射线光电子能谱全谱及目标元素高分辨谱；根据全谱定量及高分辨谱图拟合处理，得到待检测样品界面元素定量信息及价态分布信息；结合界面元素定量信息，进行多元热力学计算获取待检测样品界面的界面氧势；结合价态分布信息，得到待检测样品界面的结构信息；结合刻蚀信息，得到不同深度的结构变化。该方法解决了界面氧势和界面结构难以直接获取的难题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 直接 获得 材料 界面 结构 方法 | ||
【主权项】：
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