[发明专利]元件激光损伤阈值的测试方法有效
| 申请号： | 202011457387.5 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN112697400B | 公开（公告）日： | 2023-01-20 |
| 发明（设计）人： | 王胭脂;郭可升;陈瑞溢;张宇辉;朱晔新;朱美萍;张伟丽;王建国;孙建;易葵;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种元件激光损伤阈值的测试方法，旨在提高元件的激光损伤测试效率；本发明以微透镜阵列取代传统透镜进行激光损伤测试，可运用于传统1‑on‑1激光损伤测试也可用于S‑on‑1激光损伤测试。本发明可大幅度缩短元件激光损伤测试时间，可快速获得元件的抗激光损伤阈值，本发明适用于激光元器件抗激光损伤性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 元件 激光 损伤 阈值 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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