[发明专利]基于波前调制的相位成像及元件检测的装置和方法在审
| 申请号： | 202011459692.8 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112683794A | 公开（公告）日： | 2021-04-20 |
| 发明（设计）人： | 潘兴臣;刘诚;朱健强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/39 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于波前调制的相位成像及元件检测的装置和方法，本发明针对现有干涉测量技术在孪生像消除、极限分辨率、欠采样波前测量、多模态测量等方面的不足，提出一种基于波前调制的相位成像及元件检测的装置和方法，从光场编码的角度，完全通过迭代计算实现对待测光场复振幅的精确测量，同时能够有效消除孪生像问题、具备多模态(多波长)重建能力、理论上能够达到衍射极限分辨率，能够广泛应用于相位成像、光学元件面型检测、偏振分布测量等，具备广泛的适用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 调制 相位 成像 元件 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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