[发明专利]电子束控制线圈磁场检测系统及其检测方法在审

专利信息
申请号: 202011460582.3 申请日: 2020-12-11
公开(公告)号: CN114624636A 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 成成;张帆;高学林;贾子朝;郭志伟 申请(专利权)人: 核工业理化工程研究院
主分类号: G01R33/07 分类号: G01R33/07;G01R33/10
代理公司: 天津创智睿诚知识产权代理有限公司 12251 代理人: 李薇;田阳
地址: 300000 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种电子束控制线圈磁场检测系统及其检测方法,所述检测系统包括无磁光学平台、电子束控制线圈、设置于所述无磁光学平台上的多维电控位移模块、受所述多维电控位移模块驱动在所述电子束控制线圈产生的磁场内移动的磁场测量传感器以及与所述磁场测量传感器通讯连接的测试控制器,检测系统利用磁场测量设备和自动化电控位移系统,结合主控模块,对不同形状区域进行自动化磁场扫描,得出较为全面的磁场测量数据和磁场空间分布图。
搜索关键词: 电子束 控制 线圈 磁场 检测 系统 及其 方法
【主权项】:
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