[发明专利]一种制备高迁移率的n型单层硫掺杂石墨烯薄膜的方法在审
申请号: | 202011461808.1 | 申请日: | 2020-12-09 |
公开(公告)号: | CN112678810A | 公开(公告)日: | 2021-04-20 |
发明(设计)人: | 周宇;曹倪;李萍剑 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | C01B32/186 | 分类号: | C01B32/186;C01B32/194 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种制备高迁移率的n型单层硫掺杂石墨烯薄膜的方法,属于半导体材料制备技术领域。本发明以二苄基二硫同时作为碳源和硫源,以氢气/氩气为载气,采用双温区的化学气相沉积法制备方式,在铜箔基底上制备了单层硫掺杂石墨烯薄膜;本发明制备的单层硫掺杂石墨烯薄膜在空气中呈现典型的n型输运特性,同时具有优异的迁移率。 | ||
搜索关键词: | 一种 制备 迁移率 单层 掺杂 石墨 薄膜 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011461808.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种步频测试方法
- 下一篇:一种兼具均压功能的悬浮电位在线监测系统