[发明专利]一种制备高迁移率的n型单层硫掺杂石墨烯薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 202011461808.1 申请日: 2020-12-09
公开(公告)号: CN112678810A 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 周宇;曹倪;李萍剑 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: C01B32/186 分类号: C01B32/186;C01B32/194
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种制备高迁移率的n型单层硫掺杂石墨烯薄膜的方法,属于半导体材料制备技术领域。本发明以二苄基二硫同时作为碳源和硫源,以氢气/氩气为载气,采用双温区的化学气相沉积法制备方式,在铜箔基底上制备了单层硫掺杂石墨烯薄膜;本发明制备的单层硫掺杂石墨烯薄膜在空气中呈现典型的n型输运特性,同时具有优异的迁移率。
搜索关键词: 一种 制备 迁移率 单层 掺杂 石墨 薄膜 方法
【主权项】:
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