[发明专利]一种基于电磁辐射的IGBT并行系统健康评估方法在审
申请号: | 202011461985.X | 申请日: | 2020-12-09 |
公开(公告)号: | CN112444711A | 公开(公告)日: | 2021-03-05 |
发明(设计)人: | 伍伟;古湧乾;李岩松 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/265 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于电磁辐射的IGBT并行系统健康评估方法,其包括以下步骤:S1、通过传感器获取多个并行变换器的电磁辐射信号;S2、对异常变换器进行定位;S3、通过快速傅立叶变换及滤波将异常变换器的电磁辐射信号分离;S4、通过电磁辐射信号比较对异常变换器进行健康评估;S5、故障诊断。本发明建立变换器电磁辐射信号与IGBT退化的关系,发现电磁辐射信号的减小表征了IGBT的退化,通过比较正常与异常变换器的电磁辐射信号确定了变换器的退化程度,解决了基于多变换器的IGBT并行系统的健康评估问题。所提出的方法可方便运用于多变换器协同工作的IGBT并行系统中,且不与变换器有任何物理接触。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 电磁辐射 igbt 并行 系统 健康 评估 方法 | ||
【主权项】:
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