[发明专利]LPDDR芯片测试装置在审
| 申请号： | 202011464576.5 | 申请日： | 2020-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN112509630A | 公开（公告）日： | 2021-03-16 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;刘冲 | 申请（专利权）人： | 深圳佰维存储科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426 | 代理人： | 隆毅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区桃*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种LPDDR芯片测试装置，该LPDDR芯片测试装置包括测试台、设于所述测试台内的测试主板和设于所述测试台上的测试座，所述测试主板位于所述测试座的内腔中，所述测试台上还设有用于将测试数据输出至显示器的显示器接口、用于给所述测试主板供电的电源接口和若干测试按钮，所述显示器接口、所述电源接口和若干所述测试按钮分别与所述测试主板电性连接。本发明实施例所提出的LPDDR芯片测试装置可对不同型号的LPDDR进行测试，譬如LPDDR4和LPDDR4X，具体通过测试按钮切换测试电压即可，同时还可兼容EMCP、UMCP中LPDDR的测试。 | ||
| 搜索关键词： | lpddr 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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