[发明专利]基于网格化结构电极提高金刚石异质外延形核均匀性的方法有效

专利信息
申请号: 202011466532.6 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112695382B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 代兵;王伟华;房诗舒;朱嘉琦;舒国阳;韩杰才 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: C30B25/16 分类号: C30B25/16;C30B25/18;C30B29/04
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 岳泉清
地址: 150001 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 基于网格化结构电极提高金刚石异质外延生长均匀性的方法,本发明属于化学气相沉积法异质外延单晶金刚石领域,它为了解决金刚石大面积外延生长均匀性差的问题。一、衬底位于样品台的中心处,将网格化电极放置在腔体底座上;二、设备抽真空;三、升温过程;四、开启直流偏压电源,进行偏压增强形核;五、降低甲烷浓度,开始进行金刚石外延生长;六、外延金刚石膜光刻图形化加工与生长。本发明在偏压增强形核过程中,通过网格化结构Mo电极能够促使等离子体聚集于网状结构Mo电极表面,等离子体内部的正离子在复合衬底上方聚集形成辉光层,辉光层的均匀性提高也使得金刚石外延形核的均匀性得以提高。
搜索关键词: 基于 网格 结构 电极 提高 金刚石 外延 均匀 方法
【主权项】:
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