[发明专利]一种非金属件贮存寿命计算方法有效
| 申请号： | 202011471204.5 | 申请日： | 2020-12-14 |
| 公开（公告）号： | CN112668156B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 吕瑛;张伟;岳晓加 | 申请（专利权）人： | 北京遥感设备研究所 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G06F119/04 |
| 代理公司： | 中国航天科工集团公司专利中心 11024 | 代理人： | 姜中英 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种非金属件贮存寿命计算方法。其包括：第一步、选定表征非金属件退化的指标，将非金属件硬化层厚度作为非金属件新的退化指标；第二步、试验过程中定期检测非金属件硬化层厚度，包括：使用扫描电子显微对非金属件进行微观组织分子观测，测量硬度测试压痕处的硬化层厚度，按照一定时间间隔测试硬化层厚度，将测试数值按照时间点进行详细记录。第三步、拟合非金属件硬化层厚度‑时间退化模型，评估贮存寿命，包括：根据上述测得的非金属件硬化层厚度‑时间退化数据，得到非金属件硬化层厚度随时间的退化模型。本发明解决以往某些非金属件在进行贮存试验时，主要参数和硬度等指标未出现趋势性变化，不能评估贮存寿命的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 金属件 贮存 寿命 计算方法 | ||
【主权项】：
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