[发明专利]伪随机二值序列的局部弱随机现象的快速检测方法有效

专利信息
申请号: 202011473301.8 申请日: 2020-12-11
公开(公告)号: CN112558924B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 范春雷;丁群 申请(专利权)人: 黑龙江大学
主分类号: G06F7/58 分类号: G06F7/58;G06F17/16
代理公司: 哈尔滨市哈科专利事务所有限责任公司 23101 代理人: 吴振刚
地址: 150080 黑龙江省哈尔滨*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 发明提供一种伪随机二值序列的局部弱随机现象的快速检测方法,解决了现有技术无法对二值序列局部包含的随机性弱化现象进行精准检测的问题,本方法采用CUDA计算平台,根据待测伪随机二值序列构建初始化矩阵A,根据初始化矩阵A构建r‑1行k列的弱随机检测矩阵B;基于r‑1行k列的弱随机检测矩阵B,采用并行运算方式按顺序依次构建四个r‑1行k列的方向矩阵Dleft,Dright,Dup和Ddown;采用并行方式定位方向矩阵Dleft中所有临界值的位置,运用矩阵扫描算法定位每个临界值附近是否存在局部弱随机现象,如果存在输出相应位置信息。本发明实现了伪随机二值序列的局部弱随机现象的快速检测与定位,可对任意伪随机二值序列的局部弱随机现象进行精确定位。
搜索关键词: 随机 序列 局部 现象 快速 检测 方法
【主权项】:
暂无信息
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