[发明专利]一种三维扫描测距装置及方法有效

专利信息
申请号: 202011474521.2 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112504126B 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 刘敬伟;李文玲;韦钟辉 申请(专利权)人: 国科光芯(海宁)科技股份有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/22
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 李静玉
地址: 314400 浙江省嘉兴市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种三维扫描测距装置及方法,该装置包括:光扫描芯片、聚焦透镜、光接收元件及微处理器,光扫描芯片用于依次扫描输出多个角度的一字线光斑至待测物体上;聚焦透镜用于将待测物体在多个一字线光斑照射下反射的多个光束依次进行聚焦;光接收元件用于依次接收聚焦透镜聚焦后的多个光束,得到多幅包含亮斑的图像;微处理器,用于根据不同扫描角度及不同行像素下亮斑与待测物体深度之间的第一关系对多幅包含亮斑的图像进行解析,得到待测物体的三维点云。通过实施本发明,采用光扫描芯片进行一字线光斑的扫描及光接收元件中光斑的解析,省去了机械旋转扫描部件,实现了三维固态激光雷达的功能,在近距离测距中得到了较好的测距精度。
搜索关键词: 一种 三维 扫描 测距 装置 方法
【主权项】:
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