[发明专利]一种沟槽栅IGBT器件及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202011474978.3 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112687728B 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 梁利晓;覃荣震;朱利恒;宁旭斌;刘葳 申请(专利权)人: 株洲中车时代半导体有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L21/331;H01L29/739
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;陈敏
地址: 412001 湖南省株洲市石峰*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种沟槽栅IGBT器件及其制备方法,所述器件包括:第一导电类型衬底;设置于所述第一导电类型衬底上的第一沟槽栅和第二沟槽栅,所述第一沟槽栅和第二沟槽栅相互平行且均沿第一方向延伸;以及设置于所述第一沟槽栅和第二沟槽栅之间的浮空区,所述浮空区包括沿所述第一方向交替间隔排布的P型浮空块和N型浮空块;其中,每个所述P型浮空块的掺杂量与相邻的每个所述N型浮空块的掺杂量相等。本发明对栅氧非沟道一侧的掺杂区提出了优化设计,通过分区域进行不同类型的掺杂实现内置二极管;该二极管可以对浮空P区进行钳位,从而降低浮空P区对栅极的充电电流,提升器件的SCSOA。
搜索关键词: 一种 沟槽 igbt 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株洲中车时代半导体有限公司,未经株洲中车时代半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011474978.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top