[发明专利]一种基于赝火花脉冲放电电子束进行薄膜沉积装置在审

专利信息
申请号: 202011475193.8 申请日: 2020-12-14
公开(公告)号: CN112626466A 公开(公告)日: 2021-04-09
发明(设计)人: 傅宇蕾;胡静;赵万生;耿海峰;彭福军 申请(专利权)人: 上海宇航系统工程研究所
主分类号: C23C14/30 分类号: C23C14/30;C23C14/54
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 任林冲
地址: 201108 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种基于赝火花脉冲放电电子束进行薄膜沉积装置,包括试验腔体、赝火花放电腔体体及配套电路、抽真空装置、赝火花放电电子束、工作气体及气压控制装置、薄膜沉积靶材及移动平台、衬底加热及移动平台、电子束束流强度控制及测量装置,试验腔体为封闭腔体,其内包含赝火花放电电子束、薄膜沉积靶材及移动平台、衬底加热及移动平台和电子束束流强度控制及测量装置,赝火花放电电子束作为赝火花脉冲放电电子束进行薄膜沉积能量源。本发明是一种高效率、低成本、成膜表面质量好、脉冲参数可控性高的低温镀膜装置。
搜索关键词: 一种 基于 火花 脉冲 放电 电子束 进行 薄膜 沉积 装置
【主权项】:
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