[发明专利]一种基于赝火花脉冲放电电子束进行薄膜沉积装置在审
申请号: | 202011475193.8 | 申请日: | 2020-12-14 |
公开(公告)号: | CN112626466A | 公开(公告)日: | 2021-04-09 |
发明(设计)人: | 傅宇蕾;胡静;赵万生;耿海峰;彭福军 | 申请(专利权)人: | 上海宇航系统工程研究所 |
主分类号: | C23C14/30 | 分类号: | C23C14/30;C23C14/54 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 任林冲 |
地址: | 201108 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于赝火花脉冲放电电子束进行薄膜沉积装置,包括试验腔体、赝火花放电腔体体及配套电路、抽真空装置、赝火花放电电子束、工作气体及气压控制装置、薄膜沉积靶材及移动平台、衬底加热及移动平台、电子束束流强度控制及测量装置,试验腔体为封闭腔体,其内包含赝火花放电电子束、薄膜沉积靶材及移动平台、衬底加热及移动平台和电子束束流强度控制及测量装置,赝火花放电电子束作为赝火花脉冲放电电子束进行薄膜沉积能量源。本发明是一种高效率、低成本、成膜表面质量好、脉冲参数可控性高的低温镀膜装置。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 火花 脉冲 放电 电子束 进行 薄膜 沉积 装置 | ||
【主权项】:
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