[发明专利]构造赝自旋的装置在审

专利信息
申请号: 202011477771.1 申请日: 2020-12-15
公开(公告)号: CN112650472A 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 陈静;王青;葛浩;谢甜甜;吕迎欢 申请(专利权)人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所;上海华力微电子有限公司
主分类号: G06F7/58 分类号: G06F7/58;H01L43/08
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 孙佳胤
地址: 200050 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种构造赝自旋的装置,包括一晶体管,所述晶体管的栅极为输入端,源/漏极电学接地,漏/源极通过一隧道结电学连接至工作电平,所述隧道结为真随机数发生源,故所述晶体管的漏/源极端电平值即输出一随机数,所述随机数可以作为赝自旋取随机向上向下的状态,用以构造赝自旋。本发明由于采用真实物理过程作为真随机数的信号源,具有随机和不可预测等特性,因此消除了伪随机数的周期性和相关性等问题,产生的随机数分布均匀,符合不相关等特性,是一种高质量的真随机数,并利用在电子赝自旋构造上,可以实现真正满足量子态的随机的自旋态构造。
搜索关键词: 构造 自旋 装置
【主权项】:
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